[发明专利]在盘上形成区的方法、缺陷管理方法及记录/再现设备有效

专利信息
申请号: 200710104856.3 申请日: 2003-08-11
公开(公告)号: CN101064157A 公开(公告)日: 2007-10-31
发明(设计)人: 高祯完;李坰根 申请(专利权)人: 三星电子株式会社
主分类号: G11B20/10 分类号: G11B20/10
代理公司: 北京铭硕知识产权代理有限公司 代理人: 郭鸿禧;韩素云
地址: 韩国京畿道*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要:
搜索关键词: 形成 方法 缺陷 管理 记录 再现 设备
【权利要求书】:

1.一种管理盘中的缺陷的方法,该盘包括数据区域,还包括引入区域和 引出区域中的至少一个,该方法包括:

将根据每个记录操作记录在数据区域中的数据的缺陷信息作为临时缺陷 信息记录在数据区域中;

将用于管理临时缺陷信息的缺陷管理信息作为临时缺陷管理信息记录在 临时缺陷管理信息区域中,该临时缺陷管理信息区域在引入区域和引出区域 中的至少一个中;和

在盘的定型期间,将临时缺陷信息和临时缺陷管理信息记录在形成于引 入区域和引出区域中的至少一个中的缺陷管理区域中。

2.一种管理盘中的缺陷的方法,该盘包括数据区域,该方法包括:

将根据第一至第n记录操作记录在数据区域中的数据的缺陷信息作为第 n临时缺陷信息记录在数据区域中;

将用于管理第n临时缺陷信息的缺陷管理信息作为第n临时缺陷管理信 息记录在临时缺陷管理信息区域中,其中,n是整数,并且n>1;

在盘的定型期间,将最后记录的临时缺陷信息和最后记录的临时缺陷管 理信息记录在缺陷管理区域中。

3.一种相对于盘传递数据的记录设备,该盘包括数据区域,还包括引入 区域和引出区域中的至少一个,该设备包括:

记录单元,根据记录操作将数据记录在盘的数据区域中;和

控制器,控制记录单元:

将根据记录操作记录的数据的缺陷信息作为临时缺陷信息记录在数 据区域中,

将用于管理临时缺陷信息的缺陷管理信息作为临时缺陷管理信息记 录在临时缺陷管理信息区域中,和

在盘的定型期间,将临时缺陷信息和临时缺陷管理信息记录在形成 于引入区域和引出区域中的至少一个中的缺陷管理区域中,

其中,临时缺陷管理信息区域在盘的引入区域和引出区域中的至少一个 中。

4.一种相对于盘传递数据的记录设备,该盘包括数据区域以及引入区域 和引出区域中的至少一个,该设备包括:

记录单元,根据第一到第n记录操作将数据记录在数据区域中;和

控制器,控制记录单元:

将根据第一到第n记录操作记录的数据的缺陷信息作为第n临时缺 陷信息记录在数据区域中,

将用于管理第n临时缺陷信息的缺陷管理信息作为第n临时缺陷管 理信息记录在临时缺陷管理信息区域中,和

在盘的定型期间,将最后记录的临时缺陷信息和临时缺陷管理信息 记录在缺陷管理区域中,

其中,n是整数,并且n>1。

5.一种管理存储介质上的缺陷的方法,该方法包括:

每当新临时缺陷信息被记录时,累积地将先前记录的所有临时缺陷信息 和新临时缺陷信息一起记录在存储介质的数据区域的临时缺陷信息区域中; 和

在存储介质的定型期间,将最后记录在相应的临时缺陷信息区域中的临 时缺陷信息记录在存储介质的缺陷管理区域中。

6.一种与盘一起使用的记录设备,所述设备包括:

记录/读单元,用于将数据记录在所述盘上;和

控制器,用于控制所述记录/读单元来:

将关于根据第一至第n记录操作记录的数据的第一至第n缺陷信 息作为第n临时缺陷信息记录在盘的数据区域的临时缺陷信息区域中;

将用于管理所述第n临时缺陷信息的管理信息作为第n临时缺陷 管理信息记录在临时缺陷管理信息区域中,其中,n是整数,并且n>1, 以及

在盘的定型期间,将最后记录的临时缺陷信息和最后记录的临时 缺陷管理信息记录在缺陷管理区域中。

7.如权利要求6所述的设备,其中,所述临时缺陷管理信息包括所述临 时缺陷信息的位置信息。

8.如权利要求6所述的设备,还包括存储器,其中,在所述记录操作期 间,所述控制器控制所述记录/读单元来将相应于所述记录操作的临时缺陷信 息记录在所述存储器中。

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