[发明专利]利用瑕疵存储器的系统、装置和方法及封装结构

说明书

技术领域

本发明涉及存储器技术领域，特别涉及一种利用瑕疵存储器的系统、装置和方法及其封装结构。

背景技术

当存储器中存在坏的存储块时，该存储器为瑕疵存储器，这些坏的存储块不能被使用，而好的存储块仍可以被正常使用。

专利号为200410086950.7的中国专利文件提出了一种利用瑕疵存储器的方法和装置。该专利文件种提出，存储器可用容量一半的低地址中存在至少一个坏块区时，则该坏块所在低地址的所有存储区域都不能使用，而只使用另一半的高地址存储块。存储器高地址中存在坏块的处理方式相同。当需要使用瑕疵存储器时，具体的讲是利用瑕疵存储器的好块时，需要对地址线进行控制，只读写好块，而避免对坏块的读写。设存储器分为16块，编号为从0到15，有四根高位地址线A3、A2、A1、A0，每根高位地址线有两种状态，分为0和1，四根高位地址线的组合共有2的4次方个，即16个，每个组合对应一个存储块编号。如果编号为0的存储块是坏块，则该存储块对应的低地址的存储区域，即0～7的存储块都不能使用。为了避开这个坏块所在的低地址存储区，将高位地址线A3设为固定的1，即将A3＝0的地址屏蔽，由A3、A2、A1三个地址线组成的8个状态控制8个存储块的读写，即控制编号为8～15的存储块。这时，8～15的存储块中又产生一个坏的存储块，如第8块是坏块，为了避开这个坏块，将A2固定的设为1，即将A2＝0的地址屏蔽，由A2、A1两个地址线组成的四个状态控制4个存储块的读写，即控制编号为12～15的存储块。当剩余的存储块中又产生一个坏块时，重复利用该方法屏蔽该坏块所在的一半存储区域。当存储器分为32块、64块等情况时，产生坏块时利用该存储器的方法与此相同。

可见，当存储器存在至少两个坏块，且坏块在高地址和低地址中分别都存在时，现有的方法对存储器的利用率很低，不能对存在的好块进行有效的利用。

另外，现有技术在实施时，还必须先检测存储器的坏块区域，根据检测结果对存储器进行分块，设置电气开关，通过手工操作该电气开关的方式进行控制。但是，本领域技术人员知道，电气开关是一种物理开关，其反应速度和灵敏度都很有限，这样就影响了读写存储器的效果，且手工操作较为繁琐。

一种利用瑕疵存储器的系统中，由于受到容量的限制，可提供的电气开关的数量是有限的，那么，当瑕疵存储器在坏块情况较为复杂的情况下，有限的物理开关不能满足需求。例如，总容量为8块的存储器，如果有存在两个坏块时，根据坏块所处位置的不同，应用排列组合关系，可以由公示C(8，2)＝8！/[(8-2)！/2！]＝28得到28种不同的损坏类型，如果此时提供的电气开关时5个，可以表示2的5次方共32种，32＞28，因此该情况下5个电气开关可以满足需要。但是如果8个存储块种有3个坏块时，由C(8，3)＝8！/[(8-3)！/3！]＝336得到336种损坏类型，此时需要至少提供9个电气开关，这9个电气开关可提供2的9次方共512个状态，才可以满足336种损坏情况。

但是，在系统种能提供的电气开关是有限的，而且如果存储器分为16块、32块或更多的情况时，可以计算出需要的电气开关数量将很大，这种情况下提供大量的电气开关是难以实现的。

发明内容

本发明的目的是提供一种利用瑕疵存储器的系统、装置和方法及封装结构，以克服现有技术中存储器存在至少两个坏块，且坏块在高地址和低地址中分别都存在时，对存储器的利用率低，不能对存在的好块进行有效利用的缺陷。

本发明的次要目的在于提供一种利用瑕疵存储器的系统、装置和方法及封装结构，其读写存储器效果好，操作简单方便，容易实现。

为解决上述技术问题，本发明提供一种利用瑕疵存储器的系统、装置和方法及封装结构是这样实现的：

一种利用瑕疵存储器的系统，包括存储控制器110，译码模块130和瑕疵存储器120，其中，

存储控制器110与瑕疵存储器120间通过时钟线、数据总线、低位地址总线、第一控制线和第二控制线相连，与译码模块130通过高位地址输入总线和第二控制线相连，用于通过译码模块130对瑕疵存储器120进行读写；

译码模块130与存储控制器110通过高位地址输入总线和第二控制线相连，与瑕疵存储器120通过高位地址输出总线相连，用于将存储控制器110对瑕疵存储器120进行读写的地址译码为瑕疵存储器120中好块的地址。

译码模块130包括译码控制模块131，输出驱动模块132和可编程模块133，其中，

译码控制模块131的输入端与存储控制器110通过高位地址输入总线和第二控制线相连，用于对存储控制器110输入地址的译码；