[发明专利]修正半导体引脚测试电压来校正输出电流的方法

权利要求书

1. 一种修正半导体引脚测试电压来校正输出电流的方法，该半导体包括电压输入引脚、信号输入引脚、外接电阻引脚、信号输出引脚和接地引脚，该外接电阻引脚通过参考电阻R_ext接地，该方法包括以下步骤：

在该半导体的电压输入引脚上加测试工作电压V_CC，信号输入引脚输入测试控制信号；

测量信号输出引脚实际输出电流I′_out；

其特征在于：该方法还包括测量该外接电阻引脚到地的电压V′_ref及该接地引脚到地的电压V_GND；

用所测电压V′_ref和V_GND对实际输出电流I′_out进行修正，修正公式为：

根据该修正公式得到测试修正后电流I_修正的值。

2. 一种修正半导体引脚测试电压来校正输出电流的方法，该半导体包括电压输入引脚、信号输入引脚、外接电阻引脚、信号输出引脚和接地引脚，该外接电阻引脚通过参考电阻R_ext接地，该方法包括以下步骤：

在该半导体的电压输入引脚上加测试工作电压V_CC，信号输入引脚输入测试控制信号；

测量信号输出引脚实际输出电流I′_out；

其特征在于：该方法还包括测量该外接电阻引脚到地的电压V′_ref(n)；

计算出该测量电压V′_ref(n)经过n次测量的平均值：

Vref′(AVG)=Vref′(1)+Vref′(2)+Λ+Vref′(n)n;]]>

测量该接地引脚到地的电压V_GND；

用测得的电压V_GND及计算出的电压V′_ref(n)的平均值V′_ref(AVG)对实际输出电流I′_out进行修正，修正公式为：

根据该修正公式得出测试修正后的输出电流I_修正。

3. 如权利要求1或2所述的种修正半导体引脚测试电压来校正输出电流的方法，其特征在于：所述半导体为芯片或晶圆。

4. 如权利要求1或2所述的种修正半导体引脚测试电压来校正输出电流的方法，其特征在于：所述参考电阻R_ext可以是可变电阻，用来控制输出电流的大小。

5. 如权利要求1或2所述的种修正半导体引脚测试电压来校正输出电流的方法，其特征在于：所述测试控制信号包括时钟信号、串行数据信号、数据选通信号及使能控制信号。