[发明专利]用于在容器上等离子体沉积阻挡层的冷却装置有效

专利信息
申请号: 200680039750.3 申请日: 2006-10-23
公开(公告)号: CN101297065A 公开(公告)日: 2008-10-29
发明(设计)人: 让-米歇尔·里于 申请(专利权)人: 赛德尔参与公司
主分类号: C23C16/513 分类号: C23C16/513;C23C16/04;C23C4/00;B65D23/02;B05D7/22
代理公司: 北京市金杜律师事务所 代理人: 楼仙英;邵桂礼
地址: 法国奥*** 国省代码: 法国;FR
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摘要:
搜索关键词: 用于 容器 等离子体 沉积 阻挡 冷却 装置
【权利要求书】:

1.一种用于在容器(2)的内壁上等离子体沉积薄层阻挡材料的装置(1),所述装置(1)包括:

电磁波发生器(3);

腔(5),其与所述发生器(3)连接且由导电材料制成;以及

室(6),其定位在所述腔(5)内且由能够被来自所述发生器(3)的电磁波透过的材料制成;

所述装置(1)的特征在于,其包括用于冷却所述室(6)的机构(14,15;16)。

2.根据权利要求1所述的装置(1),其特征在于,所述冷却机构包括在腔(5)内制成的多个开口(14)。

3.根据权利要求2所述的装置(1),其特征在于,所述开口(14)被定向成彼此平行。

4.根据权利要求3所述的装置(1),其特征在于,所述开口(14)被定向成沿着与所述装置(1)的路径形成一角度的方向。

5.根据权利要求4所述的装置(1),其特征在于,所述角度在5°到45°之间。

6.根据权利要求2至5中任一项所述的装置(1),其特征在于,所述装置(1)包括定位在所述腔(5)的上游且面向所述腔(5)的风扇(15)。

7.根据权利要求2至5中任一项所述的装置(1),其特征在于,所述开口(14)基本上分布在所述腔(5)的整个周边上。

8.根据权利要求2至5中任一项所述的装置(1),其特征在于,所述开口(14)基本上分布在所述腔(5)的整个高度上。

9.根据权利要求2至5中任一项所述的装置(1),其特征在于,所述开口(14)在所述腔(5)上的密度在1/cm2到10/cm2之间。

10.根据权利要求2至5中任一项所述的装置(1),其特征在于,所述冷却机构包括用于在所述室(6)内产生空气循环的特定装置。

11.根据权利要求10所述的装置(1),其特征在于,所述装置包括定位在所述室(6)下面的风扇(16)。 

12.根据权利要求10所述的装置(1),其特征在于,所述装置包括与所述室(6)连接的供气管线和真空泵。 

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