[发明专利]半导体存储装置有效
| 申请号: | 200680027254.6 | 申请日: | 2006-07-21 |
| 公开(公告)号: | CN101228589A | 公开(公告)日: | 2008-07-23 |
| 发明(设计)人: | 朝内升 | 申请(专利权)人: | 精工爱普生株式会社 |
| 主分类号: | G11C16/06 | 分类号: | G11C16/06;B41J2/175 |
| 代理公司: | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 柳春雷 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 半导体 存储 装置 | ||
1.一种半导体存储装置,其特征在于,包括:
地址计数器,对计数值进行计数来指定作为访问对象的对象地址,并且在进行数据的读出时和进行数据的写入时最大计数值不同;
非易失性存储阵列,被顺序访问到由所述地址计数器指定的对象地址为止;
数据写入单元,从所述存储阵列的所述对象地址以规定的地址单位将写入数据写入;以及
数据读出单元,从所述存储阵列的对象地址读出数据。
2.如权利要求1所述的半导体存储装置,其特征在于,
所述地址计数器,在将计数值计数到各个所述最大计数值之后,指定所述存储阵列的起始地址。
3.如权利要求2所述的半导体存储装置,其特征在于,
所述地址计数器,与从所述半导体存储装置的外部输入的外部时钟信号同步对所述外部时钟信号数进行计数。
4.如权利要求1所述的半导体存储装置,其特征在于,
所述存储阵列包括具有第1最终地址的第1存储区域和具有第2最终地址并与所述第1存储区域连续的第2存储区域,
所述写入时的最大计数值是与所述第1最终地址对应的计数值,
所述读出时的最大计数值是在与所述第2最终地址对应的计数值上加上规定值之后的值。
5.如权利要求4所述的半导体存储装置,其特征在于,
所述地址计数器在计数到各个最大计数值之后,指定所述存储阵列中的所述第1存储区域的起始地址。
6.如权利要求5所述的半导体存储装置,其特征在于,
所述第1存储区域是可写入数据的存储区域,
所述第2存储区域是只可读出数据的存储区域。
7.如权利要求6所述的半导体存储区域,其特征在于,
所述第1存储区域是可存储128位数据的存储区域,
所述第2存储区域是可存储64位数据的存储区域,
所述地址计数器是8位地址计数器,在写入时,在第8位的值取1之后,指定所述第1存储区域的起始地址,在读出时,在8位的值全部取1之后,指定所述第1存储区域的起始地址。
8.一种可装卸地安装在印刷装置上的、容纳印刷记录材料的印刷记录材料容器,包括:
容纳部,容纳所述印刷记录材料;以及
权利要求1到7中任一项所述的半导体存储装置。
9.一种印刷系统,包括:印刷装置,以及可装卸地安装在印刷装置上的、权利要求8所述的印刷记录材料容器,所述印刷系统的特征在于,
所述印刷装置具有主机,该主机与安装在所述印刷记录材料容器上的半导体存储装置经由数据信号线、时钟信号线、复位信号线、正极电源线、以及负极电源线而总线连接,并向所述半导体存储装置发送与在印刷装置中消耗的印刷记录材料有关的量的信息,
安装在所述印刷记录材料容器上的半导体存储装置将接收的与印刷记录材料有关的量的信息存储在所述存储阵列中。
10.一种半导体存储装置中的地址管理方法,所述半导体存储装置具有被顺序访问到由与外部时钟同步而进行计数的地址计数器指定的对象地址为止的非易失性存储阵列,所述地址管理方法的特征在于,
判断对所述存储阵列的访问请求是写入请求或者读出请求中的哪一个,
当所述访问请求是写入请求、并且将所述外部时钟计数到第1最大计数值时,指定所述存储阵列的起始地址,
当所述访问请求是读出请求、并且将所述外部时钟计数到比所述第1最大计数值大的第2最大计数值时,指定所述存储阵列的起始地址。
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