[发明专利]PCB测试中实现单双密度共用的连线方法

说明书

【技术领域】

本发明属于印刷电路板(Printed Circuit Board；PCB)测试领域，尤其是指一种网格与测试通道组的连线方法。

【背景技术】

根据所分布测试点的密度来区分，PCB通用测试中所采用的网格具有单密度网格、双密度网格等不同规格，其中，单密度网格每平方英寸有100个测试点，两个测试点的间距为100mil；双密度网格每平方英寸有200个测试点，两个测试点的间距为70mil。常见的单密度测试机是配置单密度网格和与之配合的单密度测试通道组的，网格上的测试点与测试通道组中的测试通道一一对应连接，一个测试点连接一个测试通道，而在现有测试中，撒针的最大斜率可做到600mil，则能测的PCB的最大密度为374点/平方英寸，超过此密度的PCB则不能在单密度测试机上进行测试，而必须另外购置密度更高的测试机——例如双密度测试机、四密度测试机等——才能进行有效测试，这就导致了PCB测试成本的升高。

【发明内容】

本发明的目的在于提供一种PCB测试中实现单双密度共用的连线方法，用于连接双密度设置的网格与单密度设置的测试通道组，以实现测试通道组以单密度设置的测试机可以进行单密度测试和双密度测试两种测试。

本发明的目的是这样实现的：一种PCB测试中实现单双密度共用的连线方法，提供有一双密度网格及一单密度测试通道组，将所述双密度网格均分为第一区域、第二区域、第三区域及第四区域，所述第一区域上的奇数测试点列、偶数测试点列分别与所述第二区域上的偶数测试点列、奇数测试点列顺次对应，所述第三区域上的奇数测试点列、偶数测试点列分别与所述第四区域上的偶数测试点列、奇数测试点列顺次对应，相对应的两列上的测试点一一对应连接，相连接的两个测试点连接于所述单密度测试通道组中的一个测试通道。

上述PCB测试中实现单双密度共用的连线方法中，所述第一区域、第二区域、第三区域及第四区域上相对应的两个测试点列，前一列的测试点与后一列的测试点按照测试点的列顺序依次一一连接。

上述PCB测试中实现单双密度共用的连线方法中，所述第一区域、第二区域、第三区域及第四区域上相对应的两个测试点列，前一列的奇数测试点与后一列的偶数测试点顺次一一连接，前一列的偶数测试点与后一列的奇数测试点顺次一一连接。

本发明的有益效果在于：本发明所公开的PCB测试中实现单双密度共用的连线方法基于现有的单密度测试机而对其进行改造，将其单密度网格更换成双密度网格，并按照本发明所述将双密度网格与单密度测试机的单密度测试通道组连接，进行PCB单密度测试时，选用双密度网格上的奇数测试点列，而偶数测试点列悬空，所有的奇数测试点列构成了单密度网格，且使每个测试通道对应检测一个测试点，故可进行单密度测试，进行PCB双密度测试时，选用双密度网格上的第二区域和第三区域，而第一区域和第四区域悬空，第二区域和第三区域上的测试点构成了双密度网格，且使每个测试通道对应检测一个测试点，故可进行双密度测试，从而实现测试通道组以单密度设置的测试机可以进行单密度测试和双密度测试两种测试，降低了PCB测试的成本。

【附图说明】

下面结合附图及实施例对本发明做进一步说明。

图1是本发明的网格与测试通道组的连线示意图。

图2是本发明的网格与测试通道组的部分连线示意图。

图3是本发明的另一实施例的网格与测试通道组的连线示意图。

图4是本发明的与图3同一实施例的网格与测试通道组的部分连线示意图。

【具体实施方式】

本发明所公开的PCB测试中实现单双密度共用的连线方法，其用于连接双密度网格和单密度测试通道组，可对现有的单密度测试机进行改进，将其单密度网格替换设置为双密度网格，使经过改进后的单密度测试机既可执行单密度测试，也可执行双密度测试。