[发明专利]CPU插槽测试装置

说明书

技术领域

本发明涉及一种测试装置，特别涉及一种用于测试主板上CPU(Central Processing Unit，中央处理器)插槽的测试装置。

背景技术

在对计算机主板进行测试时，CPU插槽的测试是比较重要的一项测试。一般来讲，CPU插槽的测试分为静态测试和动态测试，当静态测试时，计算机主板不需上电，测试人员利用测试仪器对需要测试的CPU插槽的引脚一一进行测试，检查是否有空焊或者短路等现象，但此方式很不方便，测试人员需先对照图纸一一找到需要测试的引脚才能进行测试，需耗费一定的时间，有时还可能漏测某些引脚。当动态测试时，测试人员需先要在CPU插槽上插入对应的CPU并给主板上电，然后再对从CPU插槽引脚引出的一些关键信号引脚的测试点(一般设于CPU插槽的附近)进行测试，此方式也很不方便，由于CPU上的散热器的体积一般很大，这些需要测试的关键信号引脚的测试点大多被散热器盖住，以至于很难对这些关键信号引脚的测试点进行测试，而且这种方式需要直接插入CPU来测试，如果CPU插槽存在问题的话，很有可能会烧毁CPU，造成不必要的经济损失。

发明内容

鉴于以上内容，有必要提供一种方便、有效的测试主板上CPU插槽的测试装置。

一种CPU插槽测试装置，用于测试一主板的CPU插槽，其包括一基板及一设于所述基板上的测试板，所述基板包括若干与所述CPU插槽的引脚相匹配的插接脚位，所述基板可通过所述插接脚位电性连接到所述CPU插槽上，所述测试板包括若干插孔，所述插孔与所述插接脚位中对应所述CPU插槽的关键信号引脚的插接脚位电性相连。

相较于现有技术，将所述CPU插槽测试装置插接到需测试的主板的CPU插槽后，可通过所述插接脚位间接的测量所述CPU插槽上需测试的引脚，同时借助所述测试板上的插孔可测量所述CPU插槽上的关键信号引脚，以检查这些引脚是否有空焊或者短路等现象，十分方便，快捷。

附图说明

下面参考附图结合具体实施方式对本发明作进一步的说明。

图1为本发明CPU插槽测试装置的较佳实施方式的正面示意图。

图2为图1电路原理图。

具体实施方式

请共同参考图1及图2，本发明CPU插槽测试装置10用于测试一主板上的CPU插槽，其较佳实施方式包括一块基板12及一块测试板14。

所述基板12包括若干插接脚位122，所述插接脚位122与需要测试的CPU插槽上的引脚相匹配，通过所述插接脚位122可使所述基板12的一面(图1的反面)插接到所述CPU插槽上，所述插接脚位122的数量及位置关系可根据具体需要测试的CPU插槽来设计，本实施方式以775CPU插槽为例加以说明。根据测试要求，所述插接脚位122包括若干与所述CPU插槽中需要测试的引脚对应的特定插接脚位124，所述特定插接引脚124上设有标记(如方框)，所述标记可使测试人员不需对照图纸就能轻易的找到需测试的特定插接脚位124，十分方便、快捷。

所述测试板14设于所述基板12上，其包括一个电压控制部142及一个具有八个插孔的插座144，所述电压控制部142包括六个电阻R1、R2、R3、R4、R5、R6及六个开关K1、K2、K3、K4、K5、K6。所述电压控制部142用于调整所述CPU插槽测试装置10的上电电压，以便代替具有不同上电电压的CPU进行动态测试，所述电阻及开关的数量也可根据实际CPU插槽中的VID(VoltageIdentification，电压识别)信号引脚的数量来配置。所述插座144的插孔电性连接于所述插接脚位122中与所述CPU插槽中需测试的关键信号引脚相对应的插接脚位122。