[发明专利]一种光学防伪无损检测装置

权利要求书

1.一种光学防伪无损检测装置，其特征是由开关(1)、电池(2)、电子线路板(3)、激发光源(4)、激发光源支架(5)、黑室分腔(13)、分腔隔板(8)、滤光装置(9)、光电探测器(10)、输出装置(12)构成；开关(1)与电池(2)和电子线路板(3)串连形成回路，激发光源(4)、光电探测器(10)和输出装置(12)的正负极分别与电子线路板(3)相连；激发光源(4)固定在激发光源支架(5)内，分腔隔板(8)上开有通光孔(16)，滤光装置(9)位于分腔隔板(8)的通光孔(16)处，光电探测器(10)位于右分腔内；黑室分腔(13)通过螺钉安装在激发光源支架(5)的顶面。

2.根据权利要求1所述的光学防伪无损检测装置，其特征是黑室分腔(13)由分腔隔板(8)隔开，分成左分腔(7)和右分腔(11)两部分，其中左分腔(7)是由左分腔盖(14)、分腔隔板(8)以及激发光源支架(5)顶面围成的空间，右分腔(11)是由右分腔盖(15)、分腔隔板(8)以及激发光源支架(5)顶面围成的空间。

3.根据权利要求2所述的光学防伪无损检测装置，其特征是分腔隔板(8)安装在右分腔盖(15)内壁的凹槽中。

4.根据权利要求3所述的光学防伪无损检测装置，其特征是所述的激发光源支架(5)是具有高散热性能的材料作成的有一定厚度的圆板结构，圆形顶面的左侧有一通孔，激发光源(4)通过螺钉固定在通孔内；激发光源支架(5)将激发光源(4)固定的位置保证激发光源发出的光能够照射在检测样品(6)上。

5.根据权利要求4所述的光学防伪无损检测装置，其特征是所述的左分腔盖(14)的外腔直径与激发光源支架(5)的圆形顶面的直径相同，右分腔盖(15)的外腔直径小于激发光源支架(5)的圆形顶面的直径；右分腔盖(15)通过螺钉安装在激发光源支架(5)圆板结构的顶面，左分腔盖(14)通过一对螺钉连接在分腔隔板(8)的半圆型平板结构的圆弧状侧面的两顶点处，用于连接的一对螺钉在被旋紧时，左分腔盖(14)被关上，用于连接的一对螺钉在被松开时，左分腔盖(14)以此对螺钉为转轴向右分腔盖15方向被打开，左分腔盖(14)的内腔直径略大于右分腔盖(15)的外腔直径，使左分腔盖(14)在打开状态下，能够罩在右分腔盖(15)的外面。

6.根据权利要求5所述的光学防伪无损检测装置，其特征是所述的滤光装置(9)为峰值波长在红外荧光材料的特征谱线处的干涉滤光片，其左面镀有反射膜，反射膜对激发光源(4)发射的近红外光有高反射率，使激发光源(4)发射的光在左分腔(7)中多次反射后尽量多地照射到检测样品(6)上，反射膜对检测样品(6)上红外荧光材料在激发光源(4)照射下发射的可见光有高透射率，使左分腔(7)中检测样品(6)发射的荧光能够尽量多地透射到右分腔(11)中。

7.根据权利要求6所述的光学防伪无损检测装置，其特征是所述的左分腔盖(14)为内腔壁有反射膜的四分之一壳体结构，该壳体的内腔壁为圆弧面型或多平面型，内腔壁的反射膜对激发光源(4)发射的近红外光有高反射率，使激发光源(4)发射的未直接照射到检测样品上的近红外光在左分腔(7)中多次反射后尽可能多地照射到检测样品上，内腔壁的反射膜对红外荧光材料发射的荧光有高反射率，使荧光尽可能多的反射在位于分腔隔板(8)的通光孔(16)处的滤光装置(9)上和从左分腔7中透射到右分腔(11)中。

8.根据权利要求6所述的光学防伪无损检测装置，其特征是所述的右分腔盖(15)为内腔壁有反射膜的四分之一壳体结构，该壳体的内腔壁为圆弧面型或多平面型，内腔壁的反射膜对检测样品(6)上红外荧光材料在激发光源(4)照射下发射的可见光有高反射率，使左分腔(7)中的可见光通过滤光装置(9)透射后尽可能多地反射到位于右分腔(11)中的光电探测器10接收面上。

9.根据权利要求6所述的光学防伪无损检测装置，其特征是所述的红外荧光材料为将各种不可见红外波段光束转换成可见光的光致发光材料，包括稀土元素掺杂的含氟化合物材料体系，稀土元素掺杂的卤化物材料体系，稀土元素掺杂的含硫化合物材料体系；红外荧光材料使用多晶粉末，与油墨、油漆或树脂混合后涂敷在检测样品的局部或全部。