[发明专利]一种采用共溅射沉积法制备碲化铋合金薄膜的方法无效

专利信息
申请号: 200610016269.4 申请日: 2006-10-25
公开(公告)号: CN101168836A 公开(公告)日: 2008-04-30
发明(设计)人: 范洪涛 申请(专利权)人: 国家纳米技术与工程研究院
主分类号: C23C14/35 分类号: C23C14/35;C23C14/06;C23C14/54;C23C14/58
代理公司: 国嘉律师事务所 代理人: 高美岭
地址: 300457天津*** 国省代码: 天津;12
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摘要:
搜索关键词: 一种 采用 溅射 沉积 法制 备碲化铋 合金 薄膜 方法
【权利要求书】:

1.一种采用共溅射沉积法制备碲化铋合金薄膜的方法,在磁控溅射仪上实施,其特征在于:将高纯碲片作贴片靶,用导电胶粘贴于高纯铋标准靶上,以此复合靶作为溅射靶材进行共同溅射;高纯碲片为园形,直径为标准靶材半径的30-50%,数量3-6片,均布于标准靶上;以单晶硅片作为薄膜衬底,置于溅射靶台对面;其工艺参数为:本底真空度高于1.0×10-3Pa、工作氩气压力0.2-3Pa、靶基距4-10cm、基片台旋转每分钟5-15圈、薄膜衬底温度100-300℃、溅射电源功率20-100W、退火温度200-300℃、退火时间0.5-2小时。

2.根据权利要求1所述的采用共溅射沉积法制备碲化铋合金薄膜的方法,其特征在于:高纯碲片为方形,边长为标准靶材半径的30-50%,数量3-6片,均布于标准靶上。

3.根据权利要求1所述的采用共溅射沉积法制备碲化铋合金薄膜的方法,其特征在于:用高纯碲片作标准靶,用高纯铋片作贴片靶。

4.根据权利要求1或3所述的采用共溅射沉积法制备碲化铋合金薄膜的方法,其特征在于:以石英片或玻璃片作为薄膜衬底。

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