[发明专利]定时抽取装置和图像显示装置无效
| 申请号: | 200580049771.9 | 申请日: | 2005-11-11 |
| 公开(公告)号: | CN101176156A | 公开(公告)日: | 2008-05-07 |
| 发明(设计)人: | 毛利浩喜;山本明 | 申请(专利权)人: | 松下电器产业株式会社 |
| 主分类号: | G11B20/14 | 分类号: | G11B20/14;H04L7/02 |
| 代理公司: | 北京市金杜律师事务所 | 代理人: | 季向冈 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 定时 抽取 装置 图像 显示装置 | ||
技术领域
本发明涉及从由光盘等记录介质读出的信号中,抽取该信号中包含的定时信息的定时抽取装置。
背景技术
一般来说,在存储装置或通信装置中安装信号处理装置,在该信号处理装置中,一般采用从例如由光盘等读出的信号中抽取数据信息和数据记录定时信息的PRML读取信道技术。该PRML读取信道技术是在半导体器件上混合搭载模拟电路和数字电路的技术,由于数字电路工作频率逐年增高,所以难以正确地抽取定时信息。
以往,在从由记录介质读出的模拟信号中抽取定时信息时,在专利文献1中,使用VCO(电压控制振荡器)来进行频率和相位控制,该频率和相位控制信号使用了模拟电路即D/A转换器(DAC)。此外,在专利文献2中,把用模拟电路进行的处理置换为用数字电路进行的处理。
专利文献1:特开2002-8315号公报
专利文献2:特开平10-69727号公报
发明内容
可是,在所述专利文献1记载的以往技术中,是使用很多模拟电路(D/A转换器等)的控制系统,所以数字电路小规模化时,虽然经过微细半导体工艺步骤,能以高精度制作,但是很多的模拟电路无法以高精度小规模化,结果,模拟电路的电阻值或电容值的偏差增大,难以一边把定时抽取装置小面积化,一边以高精度生成。
此外,在专利文献2所述的现有技术中,用数字电路进行频率和相位控制,所以向省面积化和半导体工艺的微细化的对应是可能的,但是存在以下缺点,如图17所述,在定时恢复时使用插补器在时间轴方向插补A/D转换器的输出,把数字信号变换为与信道时钟同步的数据,由于成为这样的结构,所以产生插补误差,相应地引起性能恶化。
而且,在所述的专利文献1和2记载的现有技术中,是使用反馈环的定时抽取动作,所以具有在初始频率误差大时,直到定时恢复动作稳定为止需要较长时间的缺点。具体而言,例如定时抽取装置是能够处理光盘的CD1倍速(4.321MHz)~DVD16倍速(432MHz)宽带的产品时,存在突然倍速变化、或位于最外周的拾波激光突然移动到最内周等频率急剧变化的因素,如果不能迅速取得与信道时钟的同步,直到定时恢复动作稳定为止将需要时间。
本发明着眼于所述缺点,其目的在于,即使在为了能够应对省面积化和半导体工艺的微细化而使用少的模拟电路,且初始频率误差大时,也使得直到定时恢复动作稳定为止在比较短的时间内进行频率和相位牵引。
为了实现所述的目的,在本发明中,从接收信号中抽取定时信息时,使用前馈手法,高效抽取信号中存在的定时信息。
即本发明的定时抽取装置是在从接收信号抽取数据和该数据的记录定时的信息再现装置的定时抽取装置,其特征在于,包括:生成与所述接收信号的数据记录定时不同步的非同步时钟并输出的非同步时钟生成器;根据所述非同步时钟生成器的非同步时钟,把模拟信号变换为数字信号的A/D转换器;根据所述非同步时钟生成器的非同步时钟,测量来自所述A/D转换器的数字信号中包含的特定模式(pattern)的出现间隔,输出该测量值即非同步时钟的个数的非同步定时检测器;接收来自所述A/D转换器的数字信号,计算该数字信号的相位误差的相位控制器;根据由所述非同步定时检测器测量出的特定模式的出现间隔、由所述相位控制器计算出的相位误差,间取所述非同步时钟生成器的非同步时钟,生成与所述数据的记录定时伪同步的伪同步时钟的伪同步时钟生成器。
本发明在所述的定时抽取装置中,其特征在于:所述非同步定时检测器根据测量特定模式的出现间隔而得到的非同步时钟的个数、与所述特定模式的出现时间间隔内的数据记录定时同步的同步时钟的设定个数,计算所述非同步时钟和所述同步时钟的周期比率,所述伪同步时钟生成器根据来自所述非同步定时检测器的周期比率、由所述相位控制器计算的相位误差,间取所述非同步时钟生成器的非同步时钟。
本发明在所述定时抽取装置中,其特征在于:所述非同步定时检测器接收所述数字信号,该数字信号中包含的数据“1”和“0”分别连续的个数的比率在预先设定的预定范围内时,判断为检测到特定模式。
本发明在所述定时抽取装置中,其特征在于:所述非同步定时检测器只要在数据“1”和“0”连续的个数的比率在预先设定的预定范围内,且该“1”和“0”连续的个数的合计个数在预先设定的预定范围内时,判断为检测到特定模式。
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