[发明专利]静电放电保护设备无效

专利信息
申请号: 200580042322.1 申请日: 2005-12-08
公开(公告)号: CN101073154A 公开(公告)日: 2007-11-14
发明(设计)人: 弗雷德里克·F·巴尔比耶;法布里斯·勃朗;格雷戈里·C·P·安贝尔;德尼·拉乌尔克斯 申请(专利权)人: 皇家飞利浦电子股份有限公司
主分类号: H01L27/02 分类号: H01L27/02
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 陈瑞丰
地址: 荷兰艾*** 国省代码: 荷兰;NL
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摘要:
搜索关键词: 静电 放电 保护 设备
【权利要求书】:

1.一种ESD保护设备,包括:

输入焊盘(2);

待保护器件(6),其第一器件接线端(16)与输入焊盘(2)相连,临界静 电放电漏电路径(14)从第一器件接线端(16)经过待保护器件(6)的栅极/漏 极结到达第二器件接线端(18);

与输入焊盘(2)相连的静电放电保护电路(4),具有触发静电放电保护 的触发端(20);

其中,第二器件接线端(18)与触发端(20)相连,使待保护器件(6)中的 漏电流触发或者有助触发静电放电保护。

2.根据权利要求1所述的ESD保护设备,所述设备位于单一半导体基板(8) 上,其中:

静电放电保护电路(4)被设置成与输入焊盘(2)邻近;

待保护的器件(6)被设置成与输入焊盘(2)的距离比静电放电保护电路 (4)与输入焊盘(2)的距离远;以及

第二器件接线端(18)通过内部连线(12)与触发端(20)相连。

3.根据权利要求1或2所述的ESD保护设备,其中,静电放电保护电路(4) 是与输入焊盘(2)相连的可控硅整流器。

4.根据权利要求3所述的ESD保护设备,其中,可控硅整流器(4)包括:

与输入焊盘(2)相连的第一节点(40);

与地(24)相连的第二节点(42);

连接于第一节点(40)与第三节点(44)之间的第一电阻器(36);

第一双极晶体管(34),其集电极和发射极连接于第三节点(44)和第二 节点(42)之间,其基极与第四节点(46)相连;

连接于第四节点(46)与第二节点(42)之间的第二电阻器(38);

第二双极晶体管(32),其集电极和发射极连接于第一节点(40)和第四 节点(46)之间,其基极与第三节点(44)相连,所述第一和第二双极晶体管 (32、34)之一是npn型晶体管,而另一个是pnp型晶体管;

其中,触发端(20)与第三节点(44)或第四节点(46)相连。

5.根据上述权利要求1、2或4所述的ESD保护设备,其中,待保护器件(6) 可为具有源极(30)、栅极(18)和漏极(16)的场效应晶体管(FET),所述源极 和漏极(30、16)之一作为与输入焊盘(2)相连的第一器件接线端(16),而栅 极(18)作为与静电放电保护电路(4)的触发端(20)相连的第二器件接线端 (18)。

6.根据上述权利要求3所述的ESD保护设备,其中,待保护器件(6)可为具 有源极(30)、栅极(18)和漏极(16)的场效应晶体管(FET),所述源极和漏极 (30、16)之一作为与输入焊盘(2)相连的第一器件接线端(16),而栅极(18) 作为与静电放电保护电路(4)的触发端(20)相连的第二器件接线端(18)。

7.一种设计和制造ESD保护设备的方法,所述方法包括如下步骤:

把第一实例的待保护器件(6)设置于基板(8)上,通过连接线路(10)与 输入焊盘(2)相连;

向输入焊盘(2)加给静电放电,使静电放电电流流过所述第一实例的待 保护器件(6);

识别临界静电放电电流路径(14),成为从第一器件接线端(16)经过所 述第一实例的待保护器件(6)的栅极/漏极结流至第二器件接线端(18);

制作ESD保护设备,该设备包括基板(8)上的第二实例的待保护器件 (6),通过连接线路与输入焊盘(2)相连,而且还包括触发端(20)与第二器 件接线端相连的ESD保护电路(4),使被识别的临界静电放电电流路径(14) 中的电流从输入焊盘(2)流入该第二实例的待保护器件(6),并从与ESD保护 电路(4)直接相连的第二器件接线端(18)流出,帮助触发ESD保护电路(4)。

8.根据权利要求7所述的方法,其中,在制造ESD保护设备的步骤中,第 二器件接线端通过内部连线(12)与触发端(20)相连,以把漏电流传递到ESD 保护电路(4)中,以帮助触发ESD保护电路(4)。

9.根据权利要求7或8所述的方法,其中,ESD保护电路是SCR电路。

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