[发明专利]磁头污点检测方法和装置有效
| 申请号： | 200410063945.4 | 申请日： | 2004-05-28 |
| 公开（公告）号： | CN1573940A | 公开（公告）日： | 2005-02-02 |
| 发明（设计）人： | 高贯一明;金子正明;原川修 | 申请（专利权）人： | TDK株式会社 |
| 主分类号： | G11B5/455 | 分类号： | G11B5/455 |
| 代理公司： | 北京市中咨律师事务所 | 代理人： | 杨晓光;李峥 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 磁头 污点 检测 方法 装置 | ||
【说明书】：
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