[实用新型]用于灯管粉层厚度测试的透过率测试装置无效

专利信息
申请号: 01205453.4 申请日: 2001-01-11
公开(公告)号: CN2463830Y 公开(公告)日: 2001-12-05
发明(设计)人: 潘建根;章军;张维 申请(专利权)人: 杭州远方仪器有限公司
主分类号: G01N21/59 分类号: G01N21/59
代理公司: 杭州求是专利事务所有限公司 代理人: 张法高
地址: 310013 *** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 用于 灯管 厚度 测试 透过 装置
【说明书】:

实用新型涉及一种用于灯管粉层厚度测试的透过率测试装置。

目前的用于灯管粉层厚度测试的透过率测试装置大都采用白炽灯、卤钨灯等作为其光源,这些光源虽然强度大,但是其功耗大,体积大,寿命短,不稳定,成本高,并且由它所组成的测试装置容易受到环境光等外界杂散光的影响,进而影响测量精度。

本实用新型的目的是提供一种体积小、功耗小、不易受外界干扰的测试装置。

为了达到上述目的本实用新型采取下列措施:

用于灯管粉层厚度测试的透过率测试装置具有底盘,在底盘上平行设有两支架,在一支架上设有发光二极管,在另一支架上设有测试探头。

本实用新型的优点是体积小、功耗小、成本低、抗干扰性强。

下面结合附图对本实用新型作详细说明。

附图是本实用新型的结构示意图。

用于灯管粉层厚度测试的透过率测试装置具有底盘1,在底盘上平行设有两支架,在一支架上设有发光二极管2,在另一支架上设有测试探头4。

在发光二极管2和测试探头4之间设置正透镜5和滤光片6,发光二极管2的发光中心位于正透镜5的焦点上,并且发光二极管2与正透镜5位于同一支架上,滤光片6与测试探头4位于另一支架上。在发光二极管2旁设置了参考探头3。发光二极管2用交流恒流调制器7驱动。   

发光二极管的发光点位于正透镜的焦点上,并通过交流恒流调制器发光;参考探头和测试探头是受光器,分别接收来自参考端和测试端的光信号,并将其转变成电信号;由于受光器接收到的是交流调制信号,因此该测试装置可以消除环境光等杂散光的影响;此外,该测试装置采用双光路系统,同时检测源端信号及测试端信号,配合使用滤光片可以达到抗干扰的作用。

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