[发明专利]逐次近似模/数转换集成电路的测试方法及电路

说明书

本发明涉及一种模/数转换集成电路的测试方法及电路，尤其涉及一种逐次近似模/数转换集成电路的测试方法及电路。

图1A示出通常应用的模/数转换集成电路(以下称为ADCIC)的电路图。图1B示出在ADCIC中，将模拟信号转换为数字信号的时序图。由於这种ADCIC中的模/数转换方法必须通过分层比较才能得到数字转换值，因此又被称为逐次近似模/数转换集成电路。

逐次近似ADCIC 100包括一个比较器105以及一个模/数转换器集成电路110。通常应用的ADCIC 100具有数个数字输出端，这些输出端输出由模拟信号转换成的数字信号。在转换过程中，如图1B所示，逐次近似模/数转换集成电路100首先将最高有效位设定为1，在与输入的模拟信号电压值比较後，由於模拟信号电压值比较小，所以将数字输出的最高有效位设定为0。尔後，对后续的位进行同样的操作，直到所有的数字输出位都被设定完毕为止。此时所得到的数字输出比特组(如图1B中的数字输出01101011)表示输入的模拟信号的数字转换值。

在得到这样一组数字输出比特组后，就可以开始指标测试程序。图1C示出通常对逐次近似模/数转换器进行检测时应用的方法流程图。首先，在步骤S100中，必须首先提供用于与上述的数字转换值相比较的一个数字预设值，并且设定一个与此数字预设值等同的取样值，以便进行后续的操作。此外，还设定误差系数为0。接下来，在步骤S105之中，对取样值与数字转换值是否相同进行判定。如果相同，则此模/数转换器是符合规格的；若不同，就必须进行下一步的测试流程，也就是步骤S110。在步骤S110之中，将误差系数加1。该误差系数的用途在于与最低有效位相乘，得出误差值。之后，在步骤S115中，将对误差系数是否大於一个预设的固定值进行判定，也就是要确保误差值仍在容许的范围内。而当误差系数大於此预设的固定值时，则此逐次近似模/数转换器就不符合规格，否则则需进行下一步的测试。

在步骤S120中，将数字预设值加上误差值之后得到的值设定为取样值。之后，在步骤S125中再对取样值与数字转换值加以比较。若两者相同，则此逐次近似模/数转换器符合规格；而当两者不同时，就必须进行步骤S130。步骤S130将数字预设值减去误差值之后所得到的值设定为取样值，之后返回到步骤S105，继续执行测试操作，直到判断出此逐次近似模/数转换器是否符合规格为止。

假设可以容许的误差值在3个最低有效位之内，则总共最多必须做7次测试，才能判定出此逐次近似模/数转换器是否符合规格。而且随着容许的误差与最低有效位值之间的比的增加，必须测试的次数就会更多。

综上所述，通常在测试逐次近似模/数转换器是否符合规格的时候，必须进行多次测试才能完成。而且测试的次数会随着容许的误差值与最低有效位值之间的比的增加而增加。

本发明的目的在于提出一种逐次近似模/数转换集成电路的测试方法，该方法适用于对容许一个电压误差值的逐次近似模/数转换集成电路的测试。

实现本发明的目的的技术方案如下：一种逐次近似模/数转换集成电路的测试方法，适用于对容许一电压误差值的一逐次近似模/数转换集成电路，包括：提出一模拟取样电压及表示该模拟取样电压的一数字取样值；输入该数字取样值加上该电压误差值得出的一电压上限值，并输入该数字取样值减去该电压误差值得出的一电压下限值；将该模拟取样电压分别与该电压上限值及该电压下限值相比较；当该模拟测试电压大于该电压上限值时，则该逐次近似模/数转换集成电路不符合规格；以及当该模拟取样电压小于该电压下限值时，则该逐次近似模/数转换集成电路不符合规格。

根据本发明的测试方法的进一步设计，其中电压上限值系由数字取样值加上电压误差值之后，经由数/模转换得出的模拟电压。并且电压下限值系由该数字取样值减去电压误差值之后，经由数/模转换得出的模拟电压。

实现本发明目的的另一技术方案如下：一种逐次近似模/数转换集成电路的测试方法，适用于对容许一电压误差值的一逐次近似模/数转换集成电路的测试，包括：提出一模拟取样电压及表示该模拟取样电压的一数字取样值；以及提出比该数字取样值大该电压误差值的一电压上限值，以及比该数字取样值小该电压误差值的一电压下限值，以便检测该逐次近似模/数转换集成电路是否符合规格。

根据本发明的上述测试方法的进一步设计，其中当模拟取样电压大于电压上限值时，则逐次近似模/数转换集成电路不符合规格。并且当模拟取样电压小于电压下限值时，则该逐次近似模/数转换集成电路不符合规格。