[发明专利]自动改善数字图像质量的方法和装置

权利要求书

1.一种自动改善数字图像的方法，包括步骤：

测量在数字图像中至少两个子像的颗粒痕迹的幅值；以及使用在至少两个子像中所测量到的颗粒痕迹的幅值来修改数字图像。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于：颗粒痕迹的测量可进一步包括测量作为亮度函数的颗粒痕迹的幅值，并导出与亮度相关的颗粒痕迹幅值的函数。

3.如权利要求2所述的方法，其特征在于：测量颗粒痕迹幅值的步骤可进一步描述为测量颗粒痕迹的高频分量的幅值。

4.如权利要求2所述的方法，其特征在于：测量颗粒痕迹进一步包括将数字图像分割成多个子像，至少包括第一和第二子像的步骤。

5.如权利要求4所述的方法，其特征在于：第一和第二子像可以重叠。

6.如权利要求4所述的方法，其特征在于：颗粒幅值的测量包括测量在第一子像中的颗粒幅值。

7.如权利要求6所述的方法，其特征在于：在第一和第二子像中的数字图像可进一步描述为包含的颗粒痕迹和图像的混合。

8.如权利要求7所述的方法，其特征在于：颗粒痕迹的测量可进一步包括将颗粒痕迹与图像在空间频率上区分开的步骤。

9.如权利要求7所述的方法，

其特征在于，第一子像可进一步描述为包含了来自至少第一和第二彩色通道的信息；以及，

颗粒痕迹的测量是彩色通道之间关系的函数。

10.如权利要求9所述的方法，其特征在于：彩色通道之间的关系包括交叉相关性。

11.如权利要求10所述的方法，

其特征在于：第一和第二子像具有相同的亮度；以及，

具有最低相关性的子像给出属于它亮度的最大加权。

12.如权利要求10所述的方法，

其特征在于：整个信号的幅值是图像幅值和颗粒痕迹幅值的组合；以及，

从整个信号幅值中减去相关性的幅值以提供归属于颗粒痕迹幅值的信号幅值部分的估计值。

13.如权利要求1所述的方法，其特征在于：颗粒痕迹的测量进一步包括测量作为频率函数的颗粒痕迹的幅值，并导出与频率相关的颗粒痕迹幅值的函数。

14.如权利要求13所述的方法，其特征在于：测量颗粒痕迹进一步包括将数字图像分割成多个子像，至少包括第一和第二子像的步骤。

15.如权利要求15所述的方法，其特征在于：第一和第二子像可以重叠。

16.如权利要求14所述的方法，

其特征在于：第一和第二子像具有相同的亮度；以及，

对该亮度的颗粒痕迹的测量包括第一和第二子像的加权的平均。

17.如权利要求16所述的方法，其特征在于：加权的平均是个中间值。

18.如权利要求16所述的方法，其特征在于：第一和第二子像的加权与各个子像的颗粒痕迹幅值成反比。

19.如权利要求16所述的方法，

其特征在于：第一子像可进一步描述为包含了来自至少第一和第二彩色通道的信息；以及，

颗粒痕迹的测量是彩色通道之间关系的函数。

20.如权利要求19所述的方法，其特征在于：彩色通道之间的关系包括交叉相关性。

21.如权利要求20所述的方法，其特征在于：加权的平均是交叉相关性的反比例函数。

22.如权利要求1所述的方法，其特征在于：颗粒痕迹的测量进一步包括测量作为亮度和频率函数的颗粒痕迹的幅值。

23.如权利要求22所述的方法，其特征在于：测量颗粒痕迹进一步包括将数字图像分割成多个子像，至少包括第一和第二子像的步骤。

24.如权利要求22所述的方法，其特征在于：第一和第二子像可以重叠。

25.如权利要求22所述的方法，其特征在于：颗粒幅值的测量包括测量在第一子像中的颗粒幅值的步骤。