[发明专利]自测试电子组件及测试系统

说明书

                           发明领域

本发明涉及电子组件测试领域。更具体地，本发明涉及一种在制造中用于质量控制的以及用于正在进行现场测试和报告的电子组件自测试的方法及装置或装置网路。

                           发明背景

电子组件制造的逐年扩增已提供大量不同的工业及消费产品，而产品之测试是多种制造所必须纳入的。为增强产品之质量及性能，制造工程师通常都定义出一些测试程序、以供某一测试站之测试工程师进行测试用，以确保产品质量。敏感的类比及数位电路的测试设备一般包含复杂的外部控制及监视硬体，并在许多的制造设备中显得较为困难，且通常都是不相同的。

在常用制造系统中，通常技术人员做完测试后，一未通过一个或多个测试之组件单元会马上转至该区中，所有部件功能状态及电路相关之广泛信息通常都没有保留。虽然技术人员可对一组件中之一有故障部件加以手动标记，但其它有故障系统却可能不能辨认出来，或不能被正确判断出来。即使一测试为通过之组件有单一有故障部件或电路被发现，但该单元中可能还有许多未被检测出之有故障。在利用技术人员手动测试、或由技术人员在装置外部进行控制之制造设备来说，只要一有故障被检测出，基本的有故障组件标记及转送操作或许已足够，但手工成本却显得过高。

授予B.Kennedy的美国专利5,450,576中揭露过一种调协＂一多处理器系统之启始及自测试操作＂之系统，其能＂调协多种不同处理器之共同作用＂。Kennedy揭露储存＂处理器、存储器模块或I/O电路板之每一者的组态信息、启始自测试码及开机码的技术，这些内容系以一不可扩充之格式存储在非挥发性存储器中，并将启始开机处理器所需用之执行码部份存储在中央可存取之非挥发性存储器。虽然Kennedy揭露了一种调协一多处理系统之基本启始及自测试操作的系统，但该系统仍不能收集并储存各部件之可读信息，其也不能在内部对自测试结果加以回复取得。同样地，Kennedy还未揭露经由回路进行之输出及输入信号的自测试，还未揭露使用该储存信息之安全架构。

授予B.Kennedy的美国专利5,659,748揭露过一种调协＂一多处理器系统之启始及自测试操作＂之系统，其能＂调协多种不同处理器之共同作用＂。Kennedy揭露储存＂处理器、存储器模块或I/O电路板之每一者的组态信息、启始自测试码及开机码的技术，这些内容系以一不可扩充之格式存储在非挥发性存储器中，并将启始开机处理器所需用之执行码部份存储在中央可存取之非挥发性存储器。虽然Kennedy揭露了一种调协一多处理系统之基本启始及自测试操作的系统，但该系统仍不能收集并储存各部件之可读信息，其也不能在内部对自测试结果加以回复取得。同样地，Kennedy还未揭露经由回路进行之输出及输入信号的自测试，还未揭露使用该储存信息之安全架构。

授予J.Brown及D.Bhavsar的美国专利5,627,842揭露过＂一种延伸电子电路之阶层式、中央边界扫描错误测试设备及方法，其中包含以一单一标准协定进行板内测试。测试中，每一块板对中央测控制中心都为＂可视＂，与其在被加入延伸系统前各别独立时相同。虽然Brown等人揭示了标准阶层系统测试技术，但他们却未揭露各部件之可读信息的收集及储存，还未揭露组件内部的测试结果的回复取得技术。同样地，Brown等人未揭露输出及输入信号可经由回路而自测试，他们也未揭露对储存信息的有限存取的安全架构。

授予F.Warren，H.Chrisler，R.Jacobson，C.Kim及E.Llewellyn的美国专利4,791,356中揭露过＂一种电路内部测试系统，该系统中包含在任一装置电路节点的所需点上激励该测试中装置的机制、在任一节点上可编辑响应波形的机制、及利用经编辑的波形于下一电路内部测试中再激励该相同装置的机制＂。