[发明专利]含有光碱产生剂与光酸产生剂的光致抗蚀剂组合物无效
| 申请号: | 00124850.2 | 申请日: | 2000-09-19 |
| 公开(公告)号: | CN1289069A | 公开(公告)日: | 2001-03-28 |
| 发明(设计)人: | 郑载昌;金珍秀;孔根圭;白基镐 | 申请(专利权)人: | 现代电子产业株式会社 |
| 主分类号: | G03F7/00 | 分类号: | G03F7/00 |
| 代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 王维玉,丁业平 |
| 地址: | 韩国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 有光 产生 光致抗蚀剂 组合 | ||
1.一种光致抗蚀剂组合物,其包括(a)光致抗蚀剂树脂,(b)光酸产生剂,(c)光碱产生剂,及(d)有机溶剂。
2.根据权利要求1的光致抗蚀剂组合物,其中所说光碱产生剂选自由化学式1的化合物及化学式2的化合物所组成的组中,其中,
R′为经一个或多个硝基取代的芳基;
R1及R2分别为氢,或可选择取代的直链或支链(C1-C10)烷基;
R3为可选择取代的直链或支链(C1-C20)烷基,可选择取代的(C3-C20)环烷基,或可选择取代的(C6-C20)芳基;
R4及R5分别为氢,可选择取代的直链或支链(C1-C20)烷基,或可选择取代的(C6-C20)芳基;及
R6为氢,可选择取代的直链或支链(C1-C20)烷基;或可选择取代的(C6-C20)芳烷基。
3.根据权利要求2的光致抗蚀剂组合物,其中R′为在邻位上有一或两个硝基取代的芳基。
4.根据权利要求2的光致抗蚀剂组合物,其中所说化学式1的化合物选自由化学式1a至1f的化合物所组成的组中:
5.根据权利要求2的光致抗蚀剂组合物,其中所说化学式2的化合物选自由化学式2a至2c的化合物所组成的组中:
6.根据权利要求1的光致抗蚀剂组合物,其中所说光酸产生剂为硫化物或鎓类化合物。
7.根据权利要求1的光致抗蚀剂组合物,其中所说光酸产生剂为选自由二苯基碘六氟磷酸盐、二苯基碘六氟砷酸盐、二苯基碘六氟锑酸盐、二苯基对-甲氧基苯基三氟甲磺酸盐、二苯基对-甲苯基三氟甲磺酸盐、二苯基对-异丁基苯基三氟甲磺酸盐、二苯基对-叔丁基苯基三氟甲磺酸盐、六氟磷酸三苯基锍、六氟砷酸三苯基锍、六氟锑酸三苯基锍、三氟甲磺酸三苯基锍、三氟甲磺酸二丁基萘基锍及其混合物所组成的组中。
8.根据权利要求1的光致抗蚀剂组合物,其中所说光酸产生剂量为所说光致抗蚀剂树脂的约0.05重量%至约10重量%。
9.根据权利要求1的光致抗蚀剂组合物,其中所说光碱产生剂的量为所说光酸产生剂的约30重量%至约150重量%。
10.根据权利要求1的光致抗蚀剂组合物,其中所说有机溶剂选自由丙二醇甲基醚醋酸酯、3-甲氧基丙酸甲酯、3-乙氧基丙酸乙酯、环己酮、2-庚酮及其混合物所组成的组中。
11.根据权利要求1的光致抗蚀剂组合物,其中所说有机溶剂为所说光致抗蚀剂树脂的约200重量%到约800重量%。
12.根据权利要求1的光致抗蚀剂组合物,其中所说光致抗蚀剂树脂为化学放大光致抗蚀剂聚合物。
13.根据权利要求11的光致抗蚀剂组合物,其中所说光致抗蚀剂聚合物包括化学式5的聚合物:
14.一种形成光致抗蚀剂图案的方法,其包括下列步骤:
(a)将权利要求1的光致抗蚀剂组合物涂布于基板上以形成光致抗蚀剂膜;
(b)使用曝光机,将所说光致抗蚀剂膜曝于光线下;及
(c)显影所说经曝光的光致抗蚀剂膜。
15.根据权利要求14的方法,该方法还包括在所说曝光步骤(b)之前和/或之后的烘烤步骤。
16.根据权利要求15的方法,其中所说烘烤步骤在70℃至200℃的温度下进行。
17.根据权利要求14的方法,其中所说曝光机为选自由ArF、KrF、VUV、EUV、E-光束、X-射线及离子束所组成的组中。
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