[发明专利]含有光碱产生剂与光酸产生剂的光致抗蚀剂组合物无效

专利信息
申请号: 00124850.2 申请日: 2000-09-19
公开(公告)号: CN1289069A 公开(公告)日: 2001-03-28
发明(设计)人: 郑载昌;金珍秀;孔根圭;白基镐 申请(专利权)人: 现代电子产业株式会社
主分类号: G03F7/00 分类号: G03F7/00
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 代理人: 王维玉,丁业平
地址: 韩国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 有光 产生 光致抗蚀剂 组合
【权利要求书】:

1.一种光致抗蚀剂组合物,其包括(a)光致抗蚀剂树脂,(b)光酸产生剂,(c)光碱产生剂,及(d)有机溶剂。

2.根据权利要求1的光致抗蚀剂组合物,其中所说光碱产生剂选自由化学式1的化合物及化学式2的化合物所组成的组中,其中,

R′为经一个或多个硝基取代的芳基;

R1及R2分别为氢,或可选择取代的直链或支链(C1-C10)烷基;

R3为可选择取代的直链或支链(C1-C20)烷基,可选择取代的(C3-C20)环烷基,或可选择取代的(C6-C20)芳基;

R4及R5分别为氢,可选择取代的直链或支链(C1-C20)烷基,或可选择取代的(C6-C20)芳基;及

R6为氢,可选择取代的直链或支链(C1-C20)烷基;或可选择取代的(C6-C20)芳烷基。

3.根据权利要求2的光致抗蚀剂组合物,其中R′为在邻位上有一或两个硝基取代的芳基。

4.根据权利要求2的光致抗蚀剂组合物,其中所说化学式1的化合物选自由化学式1a至1f的化合物所组成的组中:

5.根据权利要求2的光致抗蚀剂组合物,其中所说化学式2的化合物选自由化学式2a至2c的化合物所组成的组中:

6.根据权利要求1的光致抗蚀剂组合物,其中所说光酸产生剂为硫化物或鎓类化合物。

7.根据权利要求1的光致抗蚀剂组合物,其中所说光酸产生剂为选自由二苯基碘六氟磷酸盐、二苯基碘六氟砷酸盐、二苯基碘六氟锑酸盐、二苯基对-甲氧基苯基三氟甲磺酸盐、二苯基对-甲苯基三氟甲磺酸盐、二苯基对-异丁基苯基三氟甲磺酸盐、二苯基对-叔丁基苯基三氟甲磺酸盐、六氟磷酸三苯基锍、六氟砷酸三苯基锍、六氟锑酸三苯基锍、三氟甲磺酸三苯基锍、三氟甲磺酸二丁基萘基锍及其混合物所组成的组中。

8.根据权利要求1的光致抗蚀剂组合物,其中所说光酸产生剂量为所说光致抗蚀剂树脂的约0.05重量%至约10重量%。

9.根据权利要求1的光致抗蚀剂组合物,其中所说光碱产生剂的量为所说光酸产生剂的约30重量%至约150重量%。

10.根据权利要求1的光致抗蚀剂组合物,其中所说有机溶剂选自由丙二醇甲基醚醋酸酯、3-甲氧基丙酸甲酯、3-乙氧基丙酸乙酯、环己酮、2-庚酮及其混合物所组成的组中。

11.根据权利要求1的光致抗蚀剂组合物,其中所说有机溶剂为所说光致抗蚀剂树脂的约200重量%到约800重量%。

12.根据权利要求1的光致抗蚀剂组合物,其中所说光致抗蚀剂树脂为化学放大光致抗蚀剂聚合物。

13.根据权利要求11的光致抗蚀剂组合物,其中所说光致抗蚀剂聚合物包括化学式5的聚合物:

14.一种形成光致抗蚀剂图案的方法,其包括下列步骤:

(a)将权利要求1的光致抗蚀剂组合物涂布于基板上以形成光致抗蚀剂膜;

(b)使用曝光机,将所说光致抗蚀剂膜曝于光线下;及

(c)显影所说经曝光的光致抗蚀剂膜。

15.根据权利要求14的方法,该方法还包括在所说曝光步骤(b)之前和/或之后的烘烤步骤。

16.根据权利要求15的方法,其中所说烘烤步骤在70℃至200℃的温度下进行。

17.根据权利要求14的方法,其中所说曝光机为选自由ArF、KrF、VUV、EUV、E-光束、X-射线及离子束所组成的组中。

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